专利名称：对自动测试设备内参数测量单元监测和控制的结构专利类型：发明专利
发明人：欧内斯特P·沃克,罗纳德A·萨特斯奇夫,小阿伦M·瑞
安,埃里克D·布洛姆
申请号：CN00803425.7申请日：20000203公开号：CN1339111A公开日：20020306
摘要：本发明披露了一种在自动测试设备内使用的插脚片电路系统。插脚片电路系统包括采用CMOS技术实现的部分和采用双极型技术实现的部分。CMOS部分包括:多个定时发生器电路、用于产生表示模拟基准电平的数字比特流的数字∑－Δ调制器电路系统,以及可编程数字信号处理电路系统。双极型部分包括驱动器/接收器通道、参数测量单元以及解码器电路系统。解码器电路系统根据调制器电路系统产生的数字比特流产生模拟基准电平。驱动器/接收器通道和参数测量单元使用模拟基准电平;并且数字信号处理电路系统用于对参数测量单元产生的电平进行监测和控制。与传统插脚片电路系统比较,本发明所披露的插脚片电路系统的优势在于可以减小尺寸并降低成本。
申请人：泰拉丁公司
地址：美国马萨诸塞州
国籍：US
代理机构：中原信达知识产权代理有限责任公司
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